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我司光纤延迟线均已用这款高精度光延时测量仪中国计量院认可的测量设备进行测量标定

发布时间:2019-09-25

高精度光延时测量仪

ODM-C

ODM型高精度光延时测量仪采用微波光子学测量方法,可实现光纤长度等延时参数的精确测量。较传统的OTDR技术、色散测量技术,能成倍提升测量精度。本测量仪具有测量精度高、测量长度大、测量速度快、操作简便等优点。适用于高精度光纤传感、光子雷达等领域的精准延时测量。

ODM型高精度光延时测量仪的反射式工作模式,仅需一个端口连接待测光纤即可实时显示测量结果,测量准确。本仪器同时支持两端口直通测量,并可按客户需求进行硬件和软件上的定制服务。


Ø   支持反射式测量与直通式测量,精度低至0.1mm,测量长度可达5km;

Ø   1310nm/1550nm测量波长可调,支持商用多波段测量;

Ø   测量速度快,接入即可自动测出长度,极大节约时间;

Ø   可定制化的光纤连接器,适用于各种应用场合;

Ø   折射率可校准,支持多种折射率光纤精确延时测量;

Ø   可导出数据,便于后期处理;


产品应用:

Ø    光纤干涉器:精确测量光纤干涉器的臂差;

Ø    光控相控阵雷达;精确控制雷达阵元光延时;

Ø    光纤通信:精确测量通信系统中的信号延时

Ø    光纤陀螺:精确测量陀螺光纤延时

Ø    其他领域:其他需要精确测量光路延时的场合。






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